光学高精密膜厚計

当社が独自に開発した光学高精密膜厚計は、光干渉の原理を利用して膜層を非接触で測定します。透明および半透明のコーティング膜層を測定可能です。測定厚さはナノメートルレベルに達し、最高測定精度は0.5％に達します。この測定計は、超高い精度、簡単な操作、そして幅広い使用シーンが特徴です。

技術仕様

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