高精密膜厚测量仪 HN-HPO-FM

High Precision Film Thickness Measuring Instrument
技术参数 Technical Parameters
项目/名称 HN-HPO-FM HN-SPO-FM HN-IPO-FM
测量方式 VIS、R UV、VIS、R IR、R
波长范围380nm-1050nm250nm-1050nm900nm-1200nm
厚度范围15nm-100um2nm-200um200nm-3000um
光源 钨卤素灯 钨卤素灯+氚灯 钨卤素灯
重复精度0.1nm
准确性 2nm或0.5%
测试原理 Test Principle

<入射光在薄膜的上下表面发生多次反射
<反射光的强度和薄膜折射率、基底折射率、膜厚、波长有关
<在已知折射率的情况下,根据测量出的反射光强和波长的函数计算出膜厚